Produsul Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology, David C. Cox (Author), din categoria Stiinta si tehnica se evidențiază prin selecția urmatoare de specificații care îl fac potrivit pentru nevoile diverse ale consumatorilor: Provine de la brandul KESSINGER PUB LLC, format fizic, nationalitate autor strain, tip coperta brosata, numar pagini 104, limba engleza, an publicare 2015, greutate 163 g, gen tehnica, subgen inginerie, chimie, fizica, dimensiune (mm) 175 x 254, colectie iop concise physics, autor david c. cox, isbn / issn 9781681740201, .
Descoperă cele mai bune oferte în categoria Stiinta si tehnica
Cauți cele mai bune oferte pentru Introduction to Focused Ion Beam în categoria Stiinta si tehnica? Ai ajuns în locul potrivit! Pe platforma noastră de comparare prețuri, poți găsi cele mai avantajoase opțiuni de pe piață, economisind bani și timp prețios.
Introduction to Focused Ion Beam este un produs popular și apreciat în categoria sa. Compară prețurile de la diferiți comercianți și alege oferta care ți se potrivește cel mai bine nevoilor și bugetului.
De ce să folosești comparatorul nostru de prețuri?
- **Varietate de opțiuni**: Accesezi o gamă largă de oferte și comercianți pentru a găsi produsul dorit.
- **Economisești timp și bani**: Compari prețurile rapid și ușor, pentru a obține cea mai bună ofertă disponibilă.
- **Transparență și obiectivitate**: Informațiile prezentate sunt clare și utile pentru a te ajuta să iei decizia corectă.
Explorează acum cele mai bune oferte pentru Introduction to Focused Ion Beam și profită de prețurile competitive din categoria Stiinta si tehnica. Utilizează comparatorul nostru de prețuri pentru a face achiziții inteligente și informate.
3cheaps - compară prețuri pentru Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology, David C. Cox (Author) (9781681740201)
Informațiile despre caracteristicile tehnice, setul de livrare, țara de fabricație și aspectul produselor este doar pentru referință și se bazează pe cele mai recente informații disponibile la momentul publicării.Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology, David C. Cox (Author) a obtinut nota 0,00 din media celor recenzii preluate de pe 0 canal(e)
În cazul în care Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology, David C. Cox (Author) nu corespunde așteptărilor tale, te invit să explorezi categoriile similare de mai jos pentru a identifica produsul potrivit: