Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light, Pierre Richard Dahoo (Author)
Detalii JOHN WILEY & SONS INC 9781848219366
(0,00/ Recenzii)Categorie: Stiinta si tehnica
Brand: JOHN WILEY & SONS INC
Cod Produs:9781848219366
Compară prețurile
Oferte disponibile pentru JOHN WILEY & SONS INC 9781848219366
Oferte recomandate
Alte oferte
emag.ro🧐 Vezi preț..
Informație indisponibilă
Transport gratuit
Transport contra-cost
Plata online:
Informație indisponibilă
Acceptă plata online
Fără plata online
Cashback
Informație indisponibilă
Primești Cashback
Fără Cashback
Informație indisponibilă
În stoc
Stoc limitat
Ultimele bucăți
Fără stoc
Indisponibil
Precomandă
În stoc furnizor
La comandă
Ridicare showroom
Istoric de preț
Descriere completă JOHN WILEY & SONS INC 9781848219366
Descriere Nanometer-Scale Defect Detection Using - 9781848219366
Produsul Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light, Pierre Richard Dahoo (Author), din categoria Stiinta si tehnica se evidențiază prin selecția urmatoare de specificații care îl fac potrivit pentru nevoile diverse ale consumatorilor: Provine de la brandul JOHN WILEY & SONS INC, format fizic, limba engleza, tip coperta cartonata, an publicare 2016, colectie diverse, gen stiinta, tehnica, subgen fizica, nanotehnologie, numar pagini 316, dimensiune (mm) 167 x 241, greutate 618 g, autor philippe pougnet, pierre richard dahoo, abdelkhalak el hami, isbn / issn 9781848219366, .
Descoperă cele mai bune oferte în categoria Stiinta si tehnica
Cauți cele mai bune oferte pentru Nanometer-Scale Defect Detection Using în categoria Stiinta si tehnica? Ai ajuns în locul potrivit! Pe platforma noastră de comparare prețuri, poți găsi cele mai avantajoase opțiuni de pe piață, economisind bani și timp prețios.
Nanometer-Scale Defect Detection Using este un produs popular și apreciat în categoria sa. Compară prețurile de la diferiți comercianți și alege oferta care ți se potrivește cel mai bine nevoilor și bugetului.
De ce să folosești comparatorul nostru de prețuri?
- **Varietate de opțiuni**: Accesezi o gamă largă de oferte și comercianți pentru a găsi produsul dorit.
- **Economisești timp și bani**: Compari prețurile rapid și ușor, pentru a obține cea mai bună ofertă disponibilă.
- **Transparență și obiectivitate**: Informațiile prezentate sunt clare și utile pentru a te ajuta să iei decizia corectă.
Explorează acum cele mai bune oferte pentru Nanometer-Scale Defect Detection Using și profită de prețurile competitive din categoria Stiinta si tehnica. Utilizează comparatorul nostru de prețuri pentru a face achiziții inteligente și informate.
3cheaps - compară prețuri pentru Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light, Pierre Richard Dahoo (Author) (9781848219366)
Informațiile despre caracteristicile tehnice, setul de livrare, țara de fabricație și aspectul produselor este doar pentru referință și se bazează pe cele mai recente informații disponibile la momentul publicării.Specificatii 9781848219366
- Format: Fizic
- Limba: Engleza
- Tip coperta: Cartonata
- An publicare: 2016
- Colectie: Diverse
- Gen: Stiinta
- Gen: Tehnica
- Subgen: Fizica
- Numar pagini: 316
- Subgen: Nanotehnologie
- Dimensiune (mm): 167 x 241
- Greutate: 618 g
- Brand: John Wiley & Sons Inc
- Autor: Philippe Pougnet
- Autor: Pierre Richard Dahoo
- Autor: Abdelkhalak El Hami
- ISBN / ISSN: 9781848219366
Recenzii 9781848219366
(0,00/ Recenzii)Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light, Pierre Richard Dahoo (Author) a obtinut nota 0,00 din media celor recenzii preluate de pe 0 canal(e)
Canale de recenzii:
Produse asemănătoare
Categorii asemănătoare
În cazul în care Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light, Pierre Richard Dahoo (Author) nu corespunde așteptărilor tale, te invit să explorezi categoriile similare de mai jos pentru a identifica produsul potrivit:
