Produsul Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Fred Stevie (Author), din categoria Stiinta si tehnica se evidențiază prin selecția urmatoare de specificații care îl fac potrivit pentru nevoile diverse ale consumatorilor: Provine de la brandul KESSINGER PUB LLC, format fizic, nationalitate autor strain, tip coperta brosata, limba engleza, an publicare 2015, greutate 390 g, dimensiune (mm) 152 x 229, gen tehnica, subgen inginerie, chimie, numar pagini 262, autor fred stevie, isbn / issn 9781606505885, .
Descoperă cele mai bune oferte în categoria Stiinta si tehnica
Cauți cele mai bune oferte pentru Secondary Ion Mass Spectrometry: în categoria Stiinta si tehnica? Ai ajuns în locul potrivit! Pe platforma noastră de comparare prețuri, poți găsi cele mai avantajoase opțiuni de pe piață, economisind bani și timp prețios.
Secondary Ion Mass Spectrometry: este un produs popular și apreciat în categoria sa. Compară prețurile de la diferiți comercianți și alege oferta care ți se potrivește cel mai bine nevoilor și bugetului.
De ce să folosești comparatorul nostru de prețuri?
- **Varietate de opțiuni**: Accesezi o gamă largă de oferte și comercianți pentru a găsi produsul dorit.
- **Economisești timp și bani**: Compari prețurile rapid și ușor, pentru a obține cea mai bună ofertă disponibilă.
- **Transparență și obiectivitate**: Informațiile prezentate sunt clare și utile pentru a te ajuta să iei decizia corectă.
Explorează acum cele mai bune oferte pentru Secondary Ion Mass Spectrometry: și profită de prețurile competitive din categoria Stiinta si tehnica. Utilizează comparatorul nostru de prețuri pentru a face achiziții inteligente și informate.
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, scris de Fred Stevie este un produs publicat de KESSINGER PUB LLC in anul 2015. Formatul produsului este fizic si este scris in limba engleza. Cartea are o coperta brosata si are o greutate de 390 g si dimensiuni de 152 x 229 mm. Numarul total de pagini este 262. Produsul se incadreaza in genul Tehnica si subgenurile Inginerie si Chimie. ISBN / ISSN este 9781606505885. Autorul acestei carti este Fred Stevie, avand nationalitatea straina.
3cheaps - compară prețuri pentru Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Fred Stevie (Author) (9781606505885)
Informațiile despre caracteristicile tehnice, setul de livrare, țara de fabricație și aspectul produselor este doar pentru referință și se bazează pe cele mai recente informații disponibile la momentul publicării.Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Fred Stevie (Author) a obtinut nota 0,00 din media celor recenzii preluate de pe 0 canal(e)
În cazul în care Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Fred Stevie (Author) nu corespunde așteptărilor tale, te invit să explorezi categoriile similare de mai jos pentru a identifica produsul potrivit: